钢研纳克光谱仪的产品特点及组成结构

钢研纳克光谱仪采用高分辨率线阵cmos作为检测器,cmos检测仪器集成性高、读取速度更快、功耗低、长期稳定性更高;每个像素自带放大器,可对特殊元素进行强度调整,增加仪器的准确度,降低分析限,实现全谱扫描。采用智能控制光室充气系统,仪器性能更稳定,服务期限更长久。海量的谱线使分析不再受限,曲线分段跳转同一元素不同谱线间实现无缝衔接,拓展分析范围三元素干扰校正使元素分析更加准确,可以在用户现场任意增加材料基体和分析元素而无需增加硬件,维护保养方便。能量、频率连续可调全数字固态光源,适应各种不同材料;网口采集传输,速度快,通用性更强。
钢研纳克光谱仪的产品特点:
1.分析速度快 一分钟---分析15个元素以上
2.精密度高 相对标准偏差rsd≤1.5%
3.稳定性好 相对标准偏差rsd≤2.0%
4.检出限低 μg∕l
5.分析元素多 可对70多种元素进行定量分析
6.操作便捷 全新windows运行环境功能齐全
7.全自动点火 气路智能控制,纳克光谱仪工作原理,实现软件点火,更方便
8.安全 有冷却水保护、灭弧保护更安全
采用多重屏蔽和良好的接地,使仪器辐射小于2v/m (jjg768-2005规定小于10v/m)。地操作者的安全。
钢研纳克光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分:
1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上,手持式纳克光谱仪工作原理,如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3. 色散元件: 通常采用光栅,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。
5. 探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是ccd阵列或其它种类的光探测器阵列。
关键词:光谱仪 光学平台

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