高低温探针台t8-ly100能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80k-420k高低温测试环境,通过外接不同的电学测量仪器,可完成集成电路的电压、电流、电阻以及iv曲线等参数检测,用于低温环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。
技术参数:
1、真空腔体约直径260mm,
2、带有4英寸高透射观察窗,材质熔融石英
3、样品载台直径:50mm样品载台平整度<5微米
4、温度范围:80k-420k,控温仪精度:0.1-0.5k
5、x-y-z行程范围:±25mm*±25mm*0-12.5mm线性运动,位移精度:1um
6、预留光纤接入口做光响应测试
7、预留四个探针座的接口
8、探针长度38mm,直径0.5mm,针尖直径1um
9、两套ccd相机(能看清1-2um)
10、耦合一套四轴应变装置(定制)
11、三同轴射频接口:4只,外接三同轴连接线双向公头,长度 2米
13、真空抽口kf50
14、重量:75kg
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