日本napson非接触式电阻检测仪
紧凑且易于操作的手动非接触式（涡流法）电阻测量仪产品名称：ec-80
测量范围
[电阻] 1m至200ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[抗页电阻] 10m至3kω/ sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5ω/□（0.001至
0.05ω-cm）（2）中：0.5至10ω/□（0.05至0.5ω-cm）
（3））高：10至1000ω/□（0.5至60ω-cm）
（4）s-高：1000至3000ω/□（60至200ω-cm）
使用手持式探针的手动无损（涡流法）电阻测量仪产品名称：ec-80p（便携式）
测量范围
[电阻] 1m至200ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[板电阻] 10m至3kω/ sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5ω/□（0.001至
0.05ω-cm）（2）中：0.5至10ω/□（0.05至0.5ω-cm）
（3））高：10至1000ω/□（0.5至60ω-cm）
（4）s-高：1000至3000ω/□（60至200ω-cm）
（5）太阳能晶片：5至500ω/□（0。 2至15ω-cm）
可通过个人计算机轻松操作的非接触（涡流法）电阻/薄层电阻测量装置产品名称：nc-10（nc-20）
测量范围
[电阻] 1m至200ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[板电阻] 10m至3kω/ sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5ω/□（0.001至
0.05ω-cm）（2）中：0.5至10ω/□（0.05至0.5ω-cm）
（3））高：10至1000ω/□（0.5至60ω-cm）
（4）s-高：1000至3000ω/□（60至200ω-cm）
duores手持式薄层电阻测量仪（2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头]）产品名称：duores
测量目标
半导体/太阳能电池材料相关（硅，多晶硅，sic等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管，dlc，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ito等）
硅基外延，离子与
半导体相关的进样样品化合物（gaas epi，gan epi，inp，ga等）
薄膜，玻璃，纸材料等
通常，可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料（ito，tco等）
•低电子玻璃
•碳纳米管，石墨烯材料
•金属材料（纳米线，网格，网眼）
•其他
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测量范围
[电阻] 1m至200ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[抗页电阻] 10m至3kω/ sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5ω/□（0.001至
0.05ω-cm）（2）中：0.5至10ω/□（0.05至0.5ω-cm）
（3））高：10至1000ω/□（0.5至60ω-cm）
（4）s-高：1000至3000ω/□（60至200ω-cm）
使用手持式探针的手动无损（涡流法）电阻测量仪产品名称：ec-80p（便携式）
测量范围
[电阻] 1m至200ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[板电阻] 10m至3kω/ sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5ω/□（0.001至
0.05ω-cm）（2）中：0.5至10ω/□（0.05至0.5ω-cm）
（3））高：10至1000ω/□（0.5至60ω-cm）
（4）s-高：1000至3000ω/□（60至200ω-cm）
（5）太阳能晶片：5至500ω/□（0。 2至15ω-cm）
可通过个人计算机轻松操作的非接触（涡流法）电阻/薄层电阻测量装置产品名称：nc-10（nc-20）
测量范围
[电阻] 1m至200ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[板电阻] 10m至3kω/ sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5ω/□（0.001至
0.05ω-cm）（2）中：0.5至10ω/□（0.05至0.5ω-cm）
（3））高：10至1000ω/□（0.5至60ω-cm）
（4）s-高：1000至3000ω/□（60至200ω-cm）
duores手持式薄层电阻测量仪（2个探头更换用[接触式和非破坏性测量探头]）产品名称：duores
测量目标
半导体/太阳能电池材料相关（硅，多晶硅，sic等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管，dlc，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ito等）
硅基外延，离子与
半导体相关的进样样品化合物（gaas epi，gan epi，inp，ga等）
薄膜，玻璃，纸材料等
通常，可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料（ito，tco等）
•低电子玻璃
•碳纳米管，石墨烯材料
•金属材料（纳米线，网格，网眼）
•其他
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