MP0操作指南

1 开/ 关仪器说明:仪器没有专门的开关。
打开仪器
-当仪器放在工件上时自动开启。如果仪器放在非铁磁性或不导电材料上,显示屏会显示“er6”,然后显示四个水平短线而不显示任何读数。
-另一种开机方法是按[ok]键。
请注意!
不要通过手指压迫传感器来开启仪器!这样可能会导致错误的测量结果。
关闭仪器/自动关闭
一分钟不使用,仪器会自动关闭。(关闭=仪器没有任何显示)。
2 测量涂镀层厚度
仪器开启后,把仪器放在要测量工件上,等待仪器发出测量声响。这种方式可以自动开启仪器。把仪器提离工件。
测量声响后显示读数。说明:若太早提起仪器(未有声响前),错误信息“er6”会出现。重复步骤3. 当仪器已在开启状态时,读数会马上显示。仪器放在测量工件上及提起后均有显示。
3 显示仪器内储存的测量数据
仪器zui多可以储存999个测量数据。
用[5]键或[6]键可翻看测量数据。翻过*个或者zui后一个测量数据后,屏幕将显示“- - - - “并维持1秒钟左右。
任何时候您都可以继续测量。4 删除所有测量数据按[5]或[6]键。按[cal]键。
“del”即删除将显示2秒钟。在“del”显示的时候按[ok]键。
仪器内所有测量数据将被删除。
当“del”不显示的时候按[ok]键将无任何反应。5 归一化归一化用来对测量仪器进行调整。归一化需要未镀过的底材,而且底材的形状和物料必须和被测量的工件*。
说明:归一化会删除所有的内存数据。
归一化仪器(前提:仪器处于开启状态)
按[cal]键.显示base (即“未镀过的底材”).在底材上测量五次左右
每次测量后,会显示当前的读数。按两次[ok]键.
屏幕显示“er17”,忽略它。
完成归一化程序。6 校准校准需要有下面几项东西:底材(形状和底材物料要与待测部件*)和一片标准片(仪器随机的75 µm左右标准片)。说明:校准将删除内存中的所有读数。
校准仪器(前提:仪器必须打开)
按[cal]键。
显示base (即“未镀过的底材”)在底材上测量五次左右.
每次测量后,会显示当前的读数。按[ok]键.
显示0.00和std1(即校准标准片# 1).把校准标准片放在底材上,并测量5次左右。
每次测量后,屏幕上会显示当前读数。用[5]或[6]键调整第4步的zui后一个数值至标准片的标称值,如“75 µm”。标准片的标称值注明在标准片上。按[ok]键。
完成校准程序.仪器返回测量状态.7删除校准资料/恢复初始曲线
有时,如果经过校准后,仪器测量仍然不准确,则可以删除校准参数。如果先前的校准程序没有正确进行的话,就可能会发生这种情况。
在这种情况下,可以把特征曲线恢复到原始的出厂设定。
删除仪器的校准参数(前提:仪器必须打开)
按[cal]键.屏幕上显示base (即“底材”) .在底材上测量5次左右.按[ok]键.显示“std1 (即校准标准片# 1) .在底材上测量1次.
屏幕将显示0左右的读数.用[5]或[6]键将std1调整到0.00 .
屏幕将显示“0.00 std1” .按[ok]键。恢复到初始的特征曲线。
恢复完成。仪器现在可以测量了。8 服务菜单进入服务菜单及设定方法:
按[ok]键10次。屏幕上显示“157”。用[5]键设定到“159”。按[ok]。屏幕显示free。用[5] [6]键选择服务菜单编号(只可选# 5到#10)重复按[ok]选择菜单内容,利用[5]或[6]进行设定。zui后按[ok]离开服务程序。服务菜单#5
内容
解释
连续测量模式
连续测量模式下:
开启连续测量模式:访问服务菜单5
关闭连续测量模式:访问服务菜单5
注意:测量结束后,请务必关闭连续测量模式!否则电池将耗尽(连续测量模式下自动关机功能失效!)
(服务菜单#1到4这款型号没有)
服务菜单#6
内容
解释
显示符号
按两次[ok]键将显示全部符号。注:但不是所有符号mp0这款仪器都用到。
服务菜单#7
内容
解释
软件版本
显示仪器软件版本
服务菜单#8
内容
解释
测试菜单
仅供维修使用!
服务菜单#9
内容
解释
恢复到出厂设置
所有服务菜单的设置都将恢复到出厂设置。
校准信息也将被删除。
服务菜单#10
内容
解释
主校准
ucal(仅供维修使用!)
9 故障查找信息
解释/可能原因
解决方法
er1
内部错误。
进行归零步骤。
如错误重复出现,联络fischer维修部。
er4
内存测量数据储存满。
删除内存测量数据。
er5
无法确定底材值。
用合适的标准片校正。
校正标准片至少要有实际工件涂镀层的1/2厚(在涂层上校正时)。
信息
解释/可能原因
解决方法
er6
超出测量范围,不能显示读数。
原因:涂镀层太厚。
原因:不正确测量。
原因:归零或校正方法有误。
涂镀层厚度在仪器测量范围内。
正确测量(例如:在测量前或后,不要把仪器放在工件上徘徊;在测量后不要太快提起仪器)。
er7
归零或校正时,非正常值被认可了。
- 不正确测量标准片。
-要求测量底材时却测量了标准片。
-测量有折痕的标准片。
-测量时,仪器没有平放在工件或标准片上。
删除内存数据,重新测量。
重新正确归零或校正(例如:在测量前或后,不要把仪器放在工件上徘徊;在测量后不要太快提起仪器)。
在同一工件上测量多次取其平均值归零。
更换标准片。
正确测量,将仪器平放在工件或标准片上。
er12
校正时测量标准片顺序错误。
按正确的顺序重新校正。
er13
主校准时,标准片的间隔不在允许范围内。
使用了错误的标准片。
误操作,在标准片上而不是在底材上归零。
通知客户服务部门。
使用正确的标准片。
在底材上归零。
er14
仪器内部错误:无法计算主校准参数。原始主校准参数被保留。
重做主校正。
如果错误重复出现:
客户服务部门。
er15
无法储存主校准参数。
探头可能已损害。
客户服务部门。
er17
读数不够,因此无法结束一个组。
再测几个数据,直到*组可以结束,然后产生一个新的统计值。
er22
仪器内部错误:错误访问内存或eeprom。
客户服务部门。
er28
仪器内部错误:无法计算测量数据。
客户服务部门。
10 技术资料仪器型号
dualscope®mp0
订货号
604-162
可测量的涂镀层系统
(测量方法)
nf, iso/fe
磁性钢铁基材上非磁性镀层和非导电涂层的厚度(磁感应方法)和
iso/nf
非磁性金属基材上非导电涂层的厚度
(电涡流方法)
测量范围
nf,iso/fe0 - 2000 µm (0 - 78 mils)
iso/nf0-2000 µm (0-78 mils)
测量误差
以fischer标准片为准
for applications nf, iso/fe
0 ... 75 µm (0 - 3 mils)±1.0µm
75 ... 1000 µm (3 - 39 mils)±2 %
1000 ... 2000 µm (39 - 78 mils)£3 %
for applications iso/nf
0 ... 50 µm (0 - 2 mils)±1 µm
50 ... 1000 µm (2 - 39 mils)±2 %
1000 ... 2000 µm (39 - 78 mils)£3 %
重复精度
以fischer标准片为准
for applications nf, iso/fe
0 ... 50 µm (0 - 2 mils)£0.25 µm
50 … 2000µm (2 -78mils)£0.5 %
for applications iso/nf
0 ...100 µm (0 - 4 mils)£0.5 µm
100 … 2000 µm (4 - 78 mils)£0.5 %
重量
85 g (2.73 oz) (不含电池); 135 g (4.34 oz) (含电池)
尺寸
w x d x h: 64 mm x 30 mm x 85 mm (2.5” x 1.2” x 3.4”)
电源
2 x battery lr6.aa 1.5 v
功耗
max. 0.2 watt
环境温度
操作温度5° ... 40°c (41° – 104°f) ;储存温度: 5°...60°c (41° – 140°f)
相对湿度
30 ... 90 % (无凝水)
测量数据内存
zui多999个测量读数
即使没有电池,内存中的数据也能保存
zui小测量间隔
2秒
11 仪器及附件的订货资料项目订货号
dualscopeòmp0604-162
电池mp0r 2x lr6.aa 1.5 v603-534
挂带mp0r603-481
探头保护罩mp0r603-582
塑料校准标准片75 µm mp0r603-479
al-基材mp0r603-478
fe-基材mp0r603-477

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