韩国帕克原子力显微镜XE15介绍
韩国帕克原子力显微镜xe15概述
park xe15具备多个特殊功能，是共享实验室处理各类样品、研究员进行多变量实验、失效分析师研究晶片等的不er选择。合理的价格搭配强健的性能设置，使其成为业内性价比樶高的大型样品原子力显微镜。
multisample™（多重采样tm）扫描器带来樶便捷样品测量
–多样品一次性自动成像
–特殊设计的多样品夹头，最多可承载16个独立样品
–全自动xy样品载台，行程范围达200 mm x 200 mm。
无轴间耦合提高扫描精度
–两种独立闭环xy和z平板式扫描
–平板式和线性xy扫描可达100μm x 100μm，且残余压弯小
–整个扫描范围内的异面移动小于2nm
–强力扫描器达25μm z扫描范围
–精确的高度测量
non-contact™（真正非接触tm）模式延长针尖使用寿命、改善样品保存及精度
–其z扫描频宽是压电管基础系统的10倍
–非接触式可降低针尖磨损、延长使用寿命
–成像分辨率高于同类原子力显微镜
–降低样品干扰，提高扫描精度
提供最佳用户体验
–开放式侧面接入，提高样品及针尖更换效率
–预对准的针尖安装和轴上俯视法可简单直观地实现激光对准
–燕尾锁封片方便镜头拆卸
–界面带自动设置功能，方便用户使用
多种模式与选项
–综合性测量模式及特性设置，是我司最佳通用型原子力显微镜
–多种可选配件及更新，扩展性能优越
– 为缺陷分析提供先进电气测量
韩国帕克原子力显微镜xe15特点
★100um x 100 um扫描范围的xy柔‘性导向扫描器
xy扫描器含系统二维弯曲及强力压电堆叠，可使极小平面外移动形成较大的正交运动，并能快速响应，实现精确的样品纳米级扫描。
★柔性导向强力z扫描器
在强力压电堆叠的驱动及弯曲结构的引导下，其硬度允许扫描器高速竖直运动，较传统原子力显微镜扫描器更加高速。樶大z型扫描范围搭配远程z扫描器（选配）可延长12μm至25μm。
★滑动连接的超亮二极管头
通过将原子力显微镜头沿楔形轨道滑动，可轻松将其插入或取出。低相干的超发光二极管头可实现高反射表面的精确成像和力-矩光谱的精确测量。超亮二极管头的波长帮助减轻干扰问题，因此用户在可见光谱实验中也可使用本产品。
★多样品夹头
特殊设计的多样品夹头，做多可承载16个独立样品，由多重采样扫描器自动按顺序扫描。特殊的夹头设计为接触样品针尖预留了边通道。
★选配编码器的xy自动样品载台
自动集成xy载台可轻松并精确控制样品的测量位置。xy样品载台的行程范围可配置为150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm。若搭配自动载台使用编码器，可提高样品定位的精确度和重复性。编码xy载台工作时分辨率为1 μm，重复率为2 μm。编码z载台的分辨率为0.1 μm，重复率为1 μm。
★高分辨率数码变焦感光元件摄像头
高分辨率数码感光元件摄像头利用直接同轴光学，具备变焦功能，无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。
★垂直对齐的自动z载台及聚焦载台
z载台和聚焦载台可将悬臂啮合到样品表面上，同时确保用户视野清晰稳定。聚焦载台是由软件控制自动运行的，因此满足透明样品及液态元件应用所需精度。
★弯曲基底解耦xy和z扫描器
z扫描器与xy扫描器完quan解耦。xy扫描器在水平面上移动样品，同时z扫描器竖直移动探针。
此配置以最小异面移动，实现了平板式xy扫描。此xy扫描同时还具有高正交性与线性。为探测最小样品的特性，帮助最快运动平面成像，park systems设计了业内0.5?以下的本底噪声标准设备。使用“零扫描”探测本地噪声数据。
★真正非接触模式延长针尖使用寿命
xe系列原子力显微镜已成功搭配强力z扫描系统的真正非接触模式。真正非接触模式下，使用的是相吸而非相排斥的内部原子力。
真正非接触模式因此成功地保持了针尖样品纳米级间距，改善了原子力显微镜图像，保持针尖的锐利，因此有效延长了针尖使用寿命。
★预对准悬臂支撑
预先安装在探针支撑上，因此不需要严格对齐激光束。
★高分辨率的直接同轴光学元件
用户可直接俯视观看样品，操控样品表面，从而很容易就能找到目标区域。高分辨率数码摄像头具备变焦功能，无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。
★带dsp控制芯片的xe控制电子元件
原子力显微镜发出的纳米级信号将由高性能park xe电子元件控制并处理。park xe电子元件为低噪声设计，配备高速处理单元，可成功实现真正非接触™模式，是纳米级成像及电压电流精准测量的理想选择。
– 600 mhz、4800 mips速度的高性能处理单元
–低噪声设计，适合电压电流精准测量
-通用系统，各spm技术均可得到应用
–外部信号接入模块，存取原子力显微镜输入/输出信号
–樶多16个数据成像
–樶大数据尺寸：4096 x 4096像素
– 16位adc/dac，速度达500 khz
– tcp/ip连接，隔离计算机接出电噪
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multisample™（多重采样tm）扫描器带来樶便捷样品测量
–多样品一次性自动成像
–特殊设计的多样品夹头，最多可承载16个独立样品
–全自动xy样品载台，行程范围达200 mm x 200 mm。
无轴间耦合提高扫描精度
–两种独立闭环xy和z平板式扫描
–平板式和线性xy扫描可达100μm x 100μm，且残余压弯小
–整个扫描范围内的异面移动小于2nm
–强力扫描器达25μm z扫描范围
–精确的高度测量
non-contact™（真正非接触tm）模式延长针尖使用寿命、改善样品保存及精度
–其z扫描频宽是压电管基础系统的10倍
–非接触式可降低针尖磨损、延长使用寿命
–成像分辨率高于同类原子力显微镜
–降低样品干扰，提高扫描精度
提供最佳用户体验
–开放式侧面接入，提高样品及针尖更换效率
–预对准的针尖安装和轴上俯视法可简单直观地实现激光对准
–燕尾锁封片方便镜头拆卸
–界面带自动设置功能，方便用户使用
多种模式与选项
–综合性测量模式及特性设置，是我司最佳通用型原子力显微镜
–多种可选配件及更新，扩展性能优越
– 为缺陷分析提供先进电气测量
韩国帕克原子力显微镜xe15特点
★100um x 100 um扫描范围的xy柔‘性导向扫描器
xy扫描器含系统二维弯曲及强力压电堆叠，可使极小平面外移动形成较大的正交运动，并能快速响应，实现精确的样品纳米级扫描。
★柔性导向强力z扫描器
在强力压电堆叠的驱动及弯曲结构的引导下，其硬度允许扫描器高速竖直运动，较传统原子力显微镜扫描器更加高速。樶大z型扫描范围搭配远程z扫描器（选配）可延长12μm至25μm。
★滑动连接的超亮二极管头
通过将原子力显微镜头沿楔形轨道滑动，可轻松将其插入或取出。低相干的超发光二极管头可实现高反射表面的精确成像和力-矩光谱的精确测量。超亮二极管头的波长帮助减轻干扰问题，因此用户在可见光谱实验中也可使用本产品。
★多样品夹头
特殊设计的多样品夹头，做多可承载16个独立样品，由多重采样扫描器自动按顺序扫描。特殊的夹头设计为接触样品针尖预留了边通道。
★选配编码器的xy自动样品载台
自动集成xy载台可轻松并精确控制样品的测量位置。xy样品载台的行程范围可配置为150 mm x 150 mm或200 mm x 200 mm。若搭配自动载台使用编码器，可提高样品定位的精确度和重复性。编码xy载台工作时分辨率为1 μm，重复率为2 μm。编码z载台的分辨率为0.1 μm，重复率为1 μm。
★高分辨率数码变焦感光元件摄像头
高分辨率数码感光元件摄像头利用直接同轴光学，具备变焦功能，无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。
★垂直对齐的自动z载台及聚焦载台
z载台和聚焦载台可将悬臂啮合到样品表面上，同时确保用户视野清晰稳定。聚焦载台是由软件控制自动运行的，因此满足透明样品及液态元件应用所需精度。
★弯曲基底解耦xy和z扫描器
z扫描器与xy扫描器完quan解耦。xy扫描器在水平面上移动样品，同时z扫描器竖直移动探针。
此配置以最小异面移动，实现了平板式xy扫描。此xy扫描同时还具有高正交性与线性。为探测最小样品的特性，帮助最快运动平面成像，park systems设计了业内0.5?以下的本底噪声标准设备。使用“零扫描”探测本地噪声数据。
★真正非接触模式延长针尖使用寿命
xe系列原子力显微镜已成功搭配强力z扫描系统的真正非接触模式。真正非接触模式下，使用的是相吸而非相排斥的内部原子力。
真正非接触模式因此成功地保持了针尖样品纳米级间距，改善了原子力显微镜图像，保持针尖的锐利，因此有效延长了针尖使用寿命。
★预对准悬臂支撑
预先安装在探针支撑上，因此不需要严格对齐激光束。
★高分辨率的直接同轴光学元件
用户可直接俯视观看样品，操控样品表面，从而很容易就能找到目标区域。高分辨率数码摄像头具备变焦功能，无论是否摇摄均可确保图像具有清晰的成像质量。
★带dsp控制芯片的xe控制电子元件
原子力显微镜发出的纳米级信号将由高性能park xe电子元件控制并处理。park xe电子元件为低噪声设计，配备高速处理单元，可成功实现真正非接触™模式，是纳米级成像及电压电流精准测量的理想选择。
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