日本电测densoku便携式薄膜膜厚计qnix系列介绍
便携式膜厚仪,可轻松提高麻烦的膜厚测量的生产效率
qnix系列产品允许您仅使用超轻型紧凑型仪器和探头即可测量薄膜厚度,而无需携带笨重的薄膜厚度计。
无线测量无需电缆。它有助于将测量数据传输到pc,也有助于防止测量过程中掉落事故。
qnix系列功能无需进行膜校准即可进行精确的膜厚度测量
出厂时输入了16点校准数据。这样就无需进行麻烦的薄膜打样工作,并且可以进行精确的薄膜厚度测量。
膜厚测量数据传输的新技术
在传统的测量仪器中,测量仪器通过电缆连接到个人计算机以传输测量数据。qnix系列使用“无线加密gou”,只需将其插入usb端口即可进行传输。您可以更快,更轻松地浏览测量数据。
超轻便的无线测量仪
探头测得的数据被无线发送到主机。它降低了被电缆卡住,像传统产品一样妨碍或导致跌落事故的风险。此外,该探头重30克,非常轻巧,因此您无需携带笨重的仪器。
一种不易折断且不会在测量对象上留下痕迹的探针。
qnix系列探头被增强塑料包围,耐用性提高了30%。即使发生极少数的故障,拆卸和维修也很容易,因此缩短了维修时间。此外,它配备有红宝石芯片,可以安全地进行测量,而不会损坏要测量的对象(样品)。
qnix系列比较规格表 qnix 8500 qnix
4500/4200 qnix 7500 qnix carcheck系统 qnix方便
可测量的电影 [f]黑色金属上的非磁性涂层
[n]黑色金属上的非导电涂层
[fn]黑色/黑色材料上的非磁性/非导电涂层 [fn]黑色金属和有色金属材料上的非磁性和非导电涂层 [fn]铁/铝材料上的非磁性/非导电膜厚度
材料识别 黑色金属和有色金属的
自动识别和交换 黑色金属和有色金属的
自动识别和交换 用户的转换 黑色金属和有色金属的
自动识别和交换 铁/有色,自动识别模式转换
测量原理 [f]磁通量(霍尔效应)
[n]涡流
测量范围 0至2,000μm
(可选:5,000μm) 0至3,000μm 0至2,000μm
(可选:5,000μm) 0至5,000μm 0〜500微米
zui高
分辨率 0.1μm,1μm
[m]0.01μm 1微米 0.1微米 0.1微米,1微米 5微米
配置格式 0点校正
用户校准:1
[m]100 0点校正 0点校正 没有校准功能 没有校准功能
准确度 ±(1微米+ 2%)
±3.5%
(2毫米或更多)
[t]±
(0.3微米+ 2%) ±(2μm+ 3%) ±(1微米+ 3%) ±(1μm+ 2%)
±3.5%
(2mm以上) ±(10微米+ 5%)
测量速度 1,500ms
(大约40次/分钟)
[t]920ms
(大约65次/分钟)
[r]1,600ms
(大约37次/分钟) 600ms
(约70次/分钟) 1,300ms
(约46次/分钟) 1,500ms
(约40次/分钟) 600ms
(约100次/分钟)
便携式薄膜测厚仪的型号代码指南
[f]黑色金属材料的非磁性膜厚度测量
[n]有色金属材料的非导电膜厚度测量
[fn]用一根探针测量黑色金属和有色金属材料上的膜厚
[t]微型探针
[m]测量数据存储功能,数据传输到pc
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