激光显微镜在半导体生产流程中的微观分析检测方案
激光显微镜在半导体生产流程中的微观分析检测方案
半导体行业在产品的小型化及多功能化、提高生产效率、削减成本等方面的竞争日趋激烈。在图形细微化、晶片大口径化发展的同时，市场对品质保障的要求越来越高，研究开发及检测的速度也变得重要了起来。
下面将为您介绍使用基恩士vk-x系列形状测量激光显微镜，在半导体生产流程中的微观分析检测方案。
在此之前，基恩士vk-x系列形状测量激光显微镜有什么特点呢？
◆观察
高分辨率，高倍率观测
与sem 相似，高达28,800× 的高分辨率观测
真实彩色观测
与光学显微镜相似，同时实现了高分辨率与真实彩色观测
无需预处理
不需要进行蒸金或切割等预处理
光盘凹坑（6000倍）
彩色印刷表面（1000 倍）
◆测量
高分辨率，非接触式测量
分辨率为0.1 nm 的z 轴非接触式测量
利用显微镜调整测量位置
可以对任一点执行3d 测量，同时观测放大的图像
各种3d 测量
轮廓，粗糙度，体积，表面积，透明物体的厚度等
轮廓测量
粗糙度测量
▶▶半导体生产流程 应用案例
半导体生产流程中的应用
• 刻印字符的深度测量
• 砂轮轴的磨片粗糙度测量/ 磨损量测量
• 晶片缺口粗糙度测量
• cmp 板的表面粗糙度测量• 测试用探针端口磨损量测量
• 使用探针进行的衬垫部分压痕深度测量
• 图案厚度、宽度、形状测量
• 光阻剂残渣状态的观察
• 光掩膜的图案宽度测量
测量硅晶片的背面
借助vk-x 系列，诸如硅晶片等镜面目标上的瑕疵或裂缝可以在高对比度，高清晰度的图像上清楚地观测到。将表面形状用表示高度信息的色阶（红~ 蓝）显示，3d 信息一目了然。
轮廓测量画面
在需要的测量线或曲线上进行截面轮廓分析，就能测量瑕疵或裂缝的深度，宽度或截面。执行表面粗糙度分析则能量化ra，ry 和rz。这些功能可以用来在晶片抛光处理时以数量化的方式检查抛光状态。因为可以进行非接触式量测，所以晶片不会被损坏。相同的功能还能用来测量cmp 板等生产设备。
除上述行业应用外，基恩士vk-x系列形状测量激光显微镜在显示行业、电子零件行业、印刷电路板/芯片安装行业、汽车行业等都有丰富的应用案例，如需进一步了解设备详情以及行业应用信息，可通过电话、留言、在线咨询等方式联系我们，我们将竭诚为您服务。
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下面将为您介绍使用基恩士vk-x系列形状测量激光显微镜，在半导体生产流程中的微观分析检测方案。
在此之前，基恩士vk-x系列形状测量激光显微镜有什么特点呢？
◆观察
高分辨率，高倍率观测
与sem 相似，高达28,800× 的高分辨率观测
真实彩色观测
与光学显微镜相似，同时实现了高分辨率与真实彩色观测
无需预处理
不需要进行蒸金或切割等预处理
光盘凹坑（6000倍）
彩色印刷表面（1000 倍）
◆测量
高分辨率，非接触式测量
分辨率为0.1 nm 的z 轴非接触式测量
利用显微镜调整测量位置
可以对任一点执行3d 测量，同时观测放大的图像
各种3d 测量
轮廓，粗糙度，体积，表面积，透明物体的厚度等
轮廓测量
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• 图案厚度、宽度、形状测量
• 光阻剂残渣状态的观察
• 光掩膜的图案宽度测量
测量硅晶片的背面
借助vk-x 系列，诸如硅晶片等镜面目标上的瑕疵或裂缝可以在高对比度，高清晰度的图像上清楚地观测到。将表面形状用表示高度信息的色阶（红~ 蓝）显示，3d 信息一目了然。
轮廓测量画面
在需要的测量线或曲线上进行截面轮廓分析，就能测量瑕疵或裂缝的深度，宽度或截面。执行表面粗糙度分析则能量化ra，ry 和rz。这些功能可以用来在晶片抛光处理时以数量化的方式检查抛光状态。因为可以进行非接触式量测，所以晶片不会被损坏。相同的功能还能用来测量cmp 板等生产设备。
除上述行业应用外，基恩士vk-x系列形状测量激光显微镜在显示行业、电子零件行业、印刷电路板/芯片安装行业、汽车行业等都有丰富的应用案例，如需进一步了解设备详情以及行业应用信息，可通过电话、留言、在线咨询等方式联系我们，我们将竭诚为您服务。
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