半导体芯片高低温测试机故障原因说明

*,半导体芯片高低温测试机是元器件半导体行业使用比较多的测试设备之一,其故障也是老生常谈的问题,那么半导体芯片高低温测试机故障有哪些呢?该怎么解决呢?
环境温度过高导致半导体芯片高低温测试机故障:对于半导体芯片高低温测试机的环境温度有明确规定,若环境温度过高势必会导致低温降不下去的现象。
冷凝器的风扇故障:检测风扇电机是否出现堵塞或烧坏的情况,风扇不转动或风速减少导致的。
制冷液泄露:通过肥皂水、洗洁精来涂抹在铜管表面,检测漏点,补好漏电,加制冷液即可。
半导体芯片高低温测试机压缩机故障:检查制冷压缩机是否工作,如果故障,切勿乱动需打厂家,维修或更换压缩机。
半导体芯片高低温测试机冷凝器灰尘之处理:冷凝器应定期每月保养,利用真空吸尘器将冷凝器散热网片上附着之灰尘吸除或利用高压空气喷除灰尘。
半导体芯片高低温测试机检查超温保护:半导体芯片高低温测试机运转时,超温保护之设定值。试验箱内之温度升至超温保护之设定点时,加热器之供电即停止,overheat超温亮灯提示但风扇仍运转,若长时间运转及无人看管,运转前请务必确实检查超温保护器,是否设定妥当。
半导体芯片高低温测试机箱体内外部的清洁与保养:半导体芯片高低温测试机在操作前应先将内部杂质清除。配电室内每年至少清洁一次以上,清洁时可利用吸尘器将室内灰尘吸除即可。箱体外部每年亦须清洗一次以上,清洗时先用肥皂水擦拭即可。
相信用户在了解半导体芯片高低温测试机故障之后能够好的使用半导体芯片高低温测试机。

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