如何用扫描电镜研究聚合物的特性，性质和用途
聚合物具有许多用途：单体的工程组合会产生无限数量的具有不同性质的分子，这些性质由分子的化学组成和结构决定。分子的组成对聚合物暴露于不同外力时的行为有很大影响。在这篇文章中，您将通过实例了解如何用扫描电镜（sem）提供超出预期的结果。
热塑性聚合物的特性及其在扫描电镜下的性能研究
首先，将重点介绍扫描电镜（sem）会提供哪些热塑聚合物的信息。
热塑聚合物具有线性的化学结构，与分子通过弱相互作用结合在一起。当聚合物被加热时，很容易断裂，导致材料变形。而热塑聚合物具有良好的抗高温性能，并且，具有很高的化学惰性和耐磨性。
热塑性聚合物可以进行不同类型的工业加工，例如，印刷或挤压，使它们成为复杂形状物品的材料。
图1：熔喷纤维的扫描电镜（sem）图像。在这个放大倍数下，可以很容易地测量纤维的直径。
举例说明其应用，热塑性聚合物广泛用于纤维，电器和电子部件，包装薄膜的生产，但也用于日常使用的物品，例如烤箱厨具。不仅可以使用扫描电镜（sem）来研究它们的性能和质量，而且也可以改进工艺并研究不同的应力如何影响这些材料。
聚合物性质：扫描电镜（sem）告诉您聚合物是什么？
通过磨损试验，仔细观察聚合物表面可以显示施加在材料上的应力的真实结果。为生产链的末端进一步开发材料或进行质量控制提供了可行性。
在这种情况下，通过立体重建或阴影显形进行粗糙度分析是一项有趣的技术，可以帮助研究人员测量材料划痕的深度。
图2：蜡的扫描电镜（sem）图像。扫描电镜（sem）和能谱（eds）分析被用来检测颗粒在聚合物矩阵中的分布和组成。
图3：用扫描电镜（sem）观察半导体可以容易地检测和发现生产中的缺陷。
在高倍率拍摄的照片中，可以非常地测量纤维和颗粒的直径。通过流体动力学性质，可以提供不同种类的信息，捕获在过滤器中的zui大粒度，分析粉末如何较好地分散在溶液中。
自动化程序也可用于控制扫描电镜（sem）自动收集样本图片并测量重要参数，直径，轴尺寸，高宽比或面积。这些结果可轻松快速地提供大量数据，节省了宝贵的时间，研究人员可以以更或更有创造性的方式进行工作。
扫描电镜（sem）如何帮助改进 3d 打印等制造工艺
扫描电镜（sem）也可以用来研究新的、趋势化的制造过程，例如 3d 打印，聚合物被挤压和操纵以创建数字 3d 绘图的真实版本。可以对打印件的分辨率和质量，以及打印机本身的组件进行测量和调查，以提升 3d 打印设备的性能表现。
图4：3d打印兔子的扫描电镜（sem）图像。使用扫描电镜（sem）来研究物体的缺陷。
聚合物和eds
在分析薄膜中的颗粒分布时，了解不同相的成分分布可以帮助改善分散过程。这种分析可以很容易地通过能谱仪（edx或eds）执行——扫描电镜（sem）上zui常用的微量分析技术。几秒钟内，化学成分的分析样本可以显示在屏幕上。
如何在扫描电镜中观察聚合物
用电子显微镜分析聚合物引发了不同的问题。但由于聚合物行业是扫描电镜（sem）用户中zui大的参与者之一，许多简单的解决方案可用于获得所需的结果。
例如，扫描电镜（sem）以*的电压对样品上的电子成像。另一方面，电流强度非常小以避免损坏样品。zui重要的是，观察到的样品必须处于高真空的密闭环境中。这可能会导致材料检测的多种后果，取决于其化学和物理抗性。
主要问题是电子在样品表面上积聚，产生充电效应。这个问题可以通过建立一个连接材料表面的导电桥梁来避免，而与之连接的设备部件是接地电位。
一个更容易的操作是根据材料规格改变扫描电镜的真空度，用低真空观察。
zui后，是选择溅射镀膜设备，可以用金薄层或其他导电材料覆盖材料。使其适用于扫描电镜（sem）分析，避免过度改变样品的结构。
聚合物通常是非常敏感的材料。电子束会损坏它们，尤其在施加很高电压时。事实上，扫描电镜发出的电子可以与分子结合，相互作用并破坏它们。飞纳台式扫描电镜（sem）提供低发射电流选项，可以在不损坏样品的情况下成像样品。
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热塑性聚合物可以进行不同类型的工业加工，例如，印刷或挤压，使它们成为复杂形状物品的材料。
图1：熔喷纤维的扫描电镜（sem）图像。在这个放大倍数下，可以很容易地测量纤维的直径。
举例说明其应用，热塑性聚合物广泛用于纤维，电器和电子部件，包装薄膜的生产，但也用于日常使用的物品，例如烤箱厨具。不仅可以使用扫描电镜（sem）来研究它们的性能和质量，而且也可以改进工艺并研究不同的应力如何影响这些材料。
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在这种情况下，通过立体重建或阴影显形进行粗糙度分析是一项有趣的技术，可以帮助研究人员测量材料划痕的深度。
图2：蜡的扫描电镜（sem）图像。扫描电镜（sem）和能谱（eds）分析被用来检测颗粒在聚合物矩阵中的分布和组成。
图3：用扫描电镜（sem）观察半导体可以容易地检测和发现生产中的缺陷。
在高倍率拍摄的照片中，可以非常地测量纤维和颗粒的直径。通过流体动力学性质，可以提供不同种类的信息，捕获在过滤器中的zui大粒度，分析粉末如何较好地分散在溶液中。
自动化程序也可用于控制扫描电镜（sem）自动收集样本图片并测量重要参数，直径，轴尺寸，高宽比或面积。这些结果可轻松快速地提供大量数据，节省了宝贵的时间，研究人员可以以更或更有创造性的方式进行工作。
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图4：3d打印兔子的扫描电镜（sem）图像。使用扫描电镜（sem）来研究物体的缺陷。
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例如，扫描电镜（sem）以*的电压对样品上的电子成像。另一方面，电流强度非常小以避免损坏样品。zui重要的是，观察到的样品必须处于高真空的密闭环境中。这可能会导致材料检测的多种后果，取决于其化学和物理抗性。
主要问题是电子在样品表面上积聚，产生充电效应。这个问题可以通过建立一个连接材料表面的导电桥梁来避免，而与之连接的设备部件是接地电位。
一个更容易的操作是根据材料规格改变扫描电镜的真空度，用低真空观察。
zui后，是选择溅射镀膜设备，可以用金薄层或其他导电材料覆盖材料。使其适用于扫描电镜（sem）分析，避免过度改变样品的结构。
聚合物通常是非常敏感的材料。电子束会损坏它们，尤其在施加很高电压时。事实上，扫描电镜发出的电子可以与分子结合，相互作用并破坏它们。飞纳台式扫描电镜（sem）提供低发射电流选项，可以在不损坏样品的情况下成像样品。
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