德国施克SICK位移测量传感器概览及优势

德国施克sick位移测量传感器概览:
ol1光学测微计因其微型结构而备受青睐,即使机器间距极小仍具有充足的安装空间。凭借led校准辅助装置与集成在aod1评价单元中的光带校准功能,可轻而易举地安装和校准发射与接收单元。ol1传感器在高度的纠偏控制方面优势,例如针对电池生产中电极材料的重复导引或者用于薄晶片的双张检测。由于储备功率高,ol1测定半透明材料的边缘位置或将薄织线或金属丝可靠导回至正确轨迹。
●微型金属外壳
●集成式led校准辅助装置
●高分辨率的cmos接收器具备高重复精度
●通过aod1评价单元可选用各种不同接口
●测量边缘位置或直径
●通过aod1评价单元自定义配置设置与计算功能
德国施克sickol1系列位移测量传感器优势:
实现微米级检测
凭借10mm光带宽度和高重复精度,ol1光学测微计成为满足有限空间中高性能要求的理想选择。无论是极为细小的物体、织线还是卷幅材料:激光级别为1的传感器均可实现微米级精度的厚度测量和定位,从而确保可靠的流程控制。
可靠检测小至0.2mm的物体
由于重复精度高达微米级,材料导引高度
发射器与接收器的间距可达300mm,使用灵活
高性能稳定性:ol1测量材料厚度和边缘位置,重复精度高达微米级。
用途广泛,尺寸紧凑
ol1的宽度仅为9.6mm,可以灵活地集成至空间有限的设备中。借助设备上的led对准辅助装置轻松对准光带。传感器也可选择通过评价单元aod1由外部便捷配置。由此确保光学测微计在多种生产环境中的快速调试。
坚固的微型金属外壳
紧凑的传感器设计允许在狭窄的安装空间中使用
通过显示屏参数设置和led对准辅助装置直观对准
应用
●电池电极边缘导引
●织线或金属丝的直径与位置检查
●晶片处理时的双张检测
●半透明薄膜导引
●电机组件中的通孔测量
●压延工艺中薄膜或织物卷幅材料的厚度测量
详情请见:施克sick位移测量传感器

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