1、支柱绝缘子超声波纵波探伤
1)、如仪器显示仅有孤立底波,无附着杂波,波幅清晰,应判定无缺陷。
2)、如瓷支柱绝缘子及瓷套内部如存在晶粒粗大时,探头移动时会出现此起彼伏的草状反射波(一般波高<30%屏幕高度),稍微移动探头反射波立即下降或消失,而缺陷波一般比较稳定,此时应判定为晶粒反射波。
3)、如瓷支柱瓷绝缘子及瓷套内部存在晶界偏析层、层状析出物、粒状析出物,气孔、裂纹等缺陷,底波前会出现点状或丛状反射波,底波也可能因此降低,应判定为缺陷波。
4)、如移动探头,缺陷波连续存在,应采用半波高度法确定缺陷的指示长度。
2、支柱绝缘子超声波爬波探伤
1)、如瓷支柱瓷绝缘子及瓷套被检部位的表面存在气孔、烧结形成的凹坑或裂纹时,会出现点状或丛状反射波,此时应与仪器预置的距离波幅曲线进行比较,波高超出曲线的应为缺陷波。
2)爬波探伤时探伤距离超过30~40mm的后段易出现草状反射波,一般应避免在此区域观察缺陷。
3、纵波斜入射探伤结果的评定
1)、点状缺陷
a)、缺陷波与相近声程φ1mm横通孔进行当量比较,缺陷波如≥φ1mm横通孔当量,判定为不合格。
b)、缺陷波<φ1mm横通孔当量,但内部缺陷波呈现为多个(≥2点)或丛状(>3点)反射波,判定为不合格。
2)裂纹缺陷
缺陷指示长度>5mm时,判定为不合格。
4、爬波探伤结果的评定
超出距离波幅曲线的反射波,应认定为缺陷,判定为不合格。
5、支柱绝缘子超声波探伤记录报告
1)、瓷支柱绝缘子、瓷套的超声波检验按本导则附录c的格式出具检验报告,并逐只记录检验结果。
2)、对于不足以判定为不合格的缺陷应采用本导则附录d的格式做好记录。缺陷记录时,应详细记录缺陷在周向和轴向的位置以及缺陷的波高。缺陷周向定位时,瓷件有*性出厂编号的,应以出厂编号首字母的左边缘为零点,顺时针360度记录;无明显*标记的,应在法兰外轮廓边缘标注钢印零点,顺时针360度记录。缺陷轴向定位时,以法兰面为零点。
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